通过扫描电镜成像来看高效过滤器的内部结构

为了得到有关高效过滤器介质局部结构的真实信息，扫描电镜成像（Scanning Electron Microscopy，SEM）以能对材料的序列断面进行成像研究而得到广泛应用。

扫描电镜浓缩了电子光学技术、真空技术、精细机械结构以及现代计算机控制技术。扫描电镜是在加速高压作用下将电子枪发射的电子经过多级电磁透镜汇集成细小的电子束。

在试样表面进行扫描，激发出各种信息，通过对这些信息的接收、放大和显示成像，以便对试样表面进行分析。

入射电子与试样相互作用产生不同的信息种类。这些信息的二维强度分布随试样表面的特征而变(这些特征有表面形貌、成分、晶体取向、电磁特性等) ，是将各种探测器收集到的信息按顺序、成比率地转换成视频信号，再传送到同步扫描的显像管并调制其亮度，可以得到一个反应试样表面状况的扫描图. 如果将探测器接收到的信号进行数字化处理即转变成数字信号，就可以由计算机做进一步的处理和存储。

对随机结构的纤维高效过滤器的气-固两相流场进行了数值模拟，其中对颗粒相的处理采用了商业软件Fluent中离散颗粒模型，随机结构由扫描电镜（SEM）技术来确定。

但是利用SEM技术对高效过滤器内部结构进行处理会存在两方面缺陷：首先SEM方法本身的局限性使得该项技术用在高效高效过滤器领域并不合适，即：为了对内部结构进行扫描，高效过滤器介质必须被分割成许多块，这样必然会破坏高效过滤器内部结构，从而影响模型结构的真实性；

其次，SEM技术的分辨率也不能达到高效过滤器介质的测试要求，而且所处理样本的尺寸也会受到限制。

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